Prof. Leopoldo Angrisani



Ingegnere Elettronico e Dottore di Ricerca in Ingegneria Elettrotecnica è Ordinario di Misure Elettriche ed Elettroniche presso il Dipartimento di Ingegneria Elettrica e delle Tecnologie dell'Informazione dell'Università di Napoli Federico II, e membro del collegio dei docenti del Dottorato di ricerca in Information Technology and Electrical Engineering del medesimo Ateneo.
Svolge attività di ricerca su temi propri delle misure elettriche ed elettroniche, tra i quali la verifica della funzionalità e delle prestazioni di sistemi, apparati e reti di comunicazione, i metodi di misura basati su compressive sampling, l'incertezza di misura, l'Homeland Security.
Ha partecipato e partecipa a diversi progetti di ricerca scientifica, sia locale sia di rilevante interesse nazionale, e a numerosi progetti di ricerca industriale e sviluppo sperimentale, per alcuni dei quali riveste il ruolo di responsabile scientifico.
È membro dell'Associazione italiana "Gruppo Misure Elettriche ed Elettroniche", del CNIT, Consorzio Nazionale Interuniversitario per le Telecomunicazioni, della Commissione Tecnica CT 1/25 "Terminologia, Grandezze e Unità" del CEI, del Consiglio Direttivo del Me.S.E., Consorzio Nazionale Interuniversitario di Ricerca sulle Metriche e Tecnologie di Misura sui Sistemi Elettrici, del Comitato Direttivo del CeSMA, Centro Servizi Metrologici Avanzati dell'Università di Napoli Federico II.
È il rappresentante italiano nel IEC Validation Team - VT 60050 per la gestione e manutenzione dell'International Electrotechnical Vocabulary.
È Senior Member della IEEE Instrumentation and Measurement Society e della IEEE Communications Society. È vice-presidente dell'Italy Chapter della IEEE Instrumentation and Measurement Society. È autore o coautore di oltre 250 articoli scientifici, un terzo dei quali pubblicati su autorevoli riviste internazionali.
Nel 2009 ha ricevuto il prestigioso IET Communications Premium per il lavoro dal titolo "Performance measurement of IEEE 802.11b-based networks affected by narrowband interference through cross-layer measurements" (pubblicato in IET Communications, vol. 2, No. 1, Gennaio 2008). Nel 2013 la IEEE Instrumentation and Measurement Society gli ha conferito l'ambito riconoscimento "IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement Outstanding Reviewer of 2013".